نانو طیف نگاری فروسرخ
به باور محققان این روش طیفنگاری در آینده کاربردهای متنوعی در رشتههای مختلف علم نانو خواهد داشت و میتوان از آن برای اندازهگیریهای سطحی فروسرخ هم استفاده نمود
اخیرا ً یک شیمیدان استرالیایی «توماس لومراستوفر» (Thomas Lummerstrofer) برای نخستینبار توانست طرحی عملی برای طیف نگاری فروسرخ از فصل مشترکهای جامد –جامد و فیلمهای نازک ارائه دهد.
بهگزارش «ستاد ویژهی توسعهی فناوری نانو»، به این ترتیب علاوه بر ثبت طیف فروسرخ تک لایههای قرار گرفته روی تعداد وسیعی از مواد پایهی فلزی و غیر فلزی با حساسیت فوقالعاده بالا، امکان پایش واکنشها و فرایندهای روی داده در این فصل مشترکها نیز امکانپذیر میشود.
به باور محققان این روش طیفنگاری در آینده کاربردهای متنوعی در رشتههای مختلف علم نانو خواهد داشت و میتوان از آن برای اندازه گیریهای سطحی فروسرخ هم استفاده نمود. به این ترتیب طیف نگاری فروسرخ ابزاری قدرتمند برای بررسی پدیدههای نوین و درک شیمی تک لایههای فشرده شده بین دو سطح جامد و مطالعهی ساختار آنها به شمار خواهد آمد.
گفتنی است این گزارش این تحقیق که در نشریهی Analytical and Bioanalytical Chemistry منتشر شده است بهعنوان بهترین مقالهی سال 2007 انتخاب شده است.
منبع خبر : ستاد ويژهي توسعهي فناوريهاي نانو
نانو طیف نگاری فروسرخ
-
عضویت : جمعه ۱۳۸۶/۱۱/۱۹ - ۰۰:۳۱
پست: 143-
سپاس: 1